CEREMONIA DE EGRESADOS IESPPA
CELEBRANDO EL ESFUERZO Y LA EXCELENCIA ACADÉMICA
La Ceremonia de Egreso del Instituto de Educación Superior Público Padre Abad (IESPPA) se desarrolló en un ambiente solemne y lleno de emotividad, reuniendo a los egresados de los programas de estudio de Enfermería Técnica (ET) y Desarrollo de Sistemas de Información (DSI), quienes asistieron acompañados de sus familiares y seres queridos.
Desde el inicio del evento, los egresados se mostraron alegres y orgullosos por el logro alcanzado; sin embargo, conforme avanzó la ceremonia, el ambiente se tornó profundamente nostálgico y conmovedor, reflejándose en la emoción de muchos de ellos, quienes no pudieron contener las lágrimas de felicidad al recibir sus constancias de egreso frente a sus familias, como reconocimiento al esfuerzo y dedicación demostrados durante su formación académica.
El acto protocolar se inició con las palabras de la directora del instituto, quien felicitó a los egresados y los exhortó a desempeñarse con responsabilidad, ética y compromiso en su vida profesional. Posteriormente, hizo uso de la palabra la Jefa de la Unidad Académica (JUA), en representación del programa de Enfermería Técnica, destacando la vocación de servicio y el rol fundamental que cumplirán los nuevos profesionales en el cuidado de la salud. A continuación, el coordinador del programa de Desarrollo de Sistemas de Información dirigió un mensaje a los egresados de DSI, resaltando la importancia de la innovación, la tecnología y el aprendizaje continuo en el campo profesional.
Seguidamente, se procedió a la entrega de las constancias de egreso, realizada por los representantes de cada programa de estudios, momento que estuvo marcado por aplausos, emociones y expresiones de orgullo por parte de los familiares presentes. Para culminar el evento, se realizaron las tomas fotográficas oficiales, dejando constancia de una jornada significativa que marca el cierre de una etapa académica y el inicio de nuevos retos profesionales para los egresados del IESPPA.
